ARÉVALO RIVERA, J. A. La tecnología y el efecto Flynn. Revista Universitaria de Informática RUNIN, [S. l.], v. 5, n. 8, p. 10–16, 2019. Disponível em: https://revistas.udenar.edu.co/index.php/runin/article/view/5982. Acesso em: 21 dic. 2024.